x荧光镀层测厚仪X荧光镀层测厚仪采用开放式设备,精密二维移动样品台,激光自动进行定位,对小样品测试效果好,铅玻璃保护屏蔽罩可以防止辐射泄漏。的详细信息X射线荧光就是被分析样品在X射线照射下发出的X射线,它包含了被分析样品化学组成的信息。通过的x射线荧光信号的分析,可以测表面电镀的金属层的光谱强度,从而得出镀层的厚度。 X荧光镀层测厚仪仪系列在电镀检测行业中, 针对上述五项需求的应用: (1)、对镀层膜厚检测、电镀液分析可精准分析; 1、仪器尺寸: 外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm 样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm , 特殊测试时,可开盖,对样品长度无限制 检测开槽口时,厚度10mm以上,宽度和深度没有限制。 样品台尺寸:230(W)×210(D)mm 移动范围:50(X)mm, 50(Y)mm Z轴升降平台升降范围:0-140mm 4、X射线光管: 管压:5-50kV 管流:0-1mA 靶材:W靶 窗口:铍窗 制冷方式:风冷 工作温度:≤75℃ 5、高压发生器: 输入电压:24V 输入电流:5A 管压:0-50kV 管流:0-2mA 灯丝电压:5V 灯丝电流:3.5A 6、MCA多道分析器 ±12V,+5V 采样频率:100 KHZ 脉冲幅度:0-7.6V A/D位数:12位 分析道数:2048道 7、准直器系统: 准直器:Ø0.1 mm 滤光片:Mo 传感器类型:CCD(彩色) 接口:USB2.0 传感器厂商:索尼 快门类型:面阵 光学尺寸:1/4英寸 有效像素:659(H)×494(V) 有效像素尺寸:3.69mm(H)×2.77mm(V) 像素尺寸:5.6μm(H)×5.6μmm(V): 感应度:0.58V(索尼标准) 颜色排列:RGB 帧率:30fps 快门速度:1/1538-1/30(秒) |