天瑞X射线荧光光谱仪详细产品资料介绍，天瑞X射线荧光光谱仪厂商咨询服务，专业生产销售XRF仪器X射线荧光光谱仪，包括:EDX1800B用于ROHS六大有害物质含量检测，Thick800A用于金属电镀层厚度测试仪，Explorer5000用于金属成分分析仪，explorer9000用于土壤重金属含量检测，EDX4500用于全元素含量分析。

天瑞1800b可在两分钟的时间内对电子电器及塑胶等产品的铅（Pb）、汞（Hg）、镉（Cd）、铬（Cr）以及溴（Br）五种元素含量。天瑞仪器秉承“无微不至”的精神,采用最新技术，特别设计EDX1800B型号的X射线荧光光谱仪。该系列产品在单位时间内接受信息多、计数率高分辨率好，探测效率更高，探测信噪比更强，检出限更低采用行业最先进的数字多道技术。优势：有效提高输出效率，实现超高计数率，保证采集有效计数率最高可达1000Wcps，采用大功率X光管及先进的准直滤光系统，优势：激发效率更高，样品更换无需关闭高压，提高测试效率与测试精度，精密的定位系统 ，超高清晰工业摄像头，更清晰的显示测试点，2D全自动移动样品台——可实现图像联动控制，多点连续测试，超小样品检测——最小可测到0.2毫米。作为一种快捷方便的光谱分析方法，EDX1800B被于重金属四项和卤素含量的扫描测试。仪器配有相应标准样品。

THick800a X射线镀层测厚仪可以满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求，黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测.属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。

φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求，高精度移动平台可精确定位测试点，重复定位精度小于0.005mm。采用高度定位激光，可自动定位测试高度；定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐，鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点，高分辨率探头使分析结果更加精准，良好的射线屏蔽作用。测试口高度敏感性传感器保护。同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）。开放式样品腔。
精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。双激光定位装置。