镀层厚度测试仪天瑞仪器x荧光镀层厚度测厚仪采用高度定位激光是一种物理分析方法,其分析与样品的化学结合状态无关。的详细信息镀层厚度测厚仪产品介绍,镀层厚度测厚仪对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析,抽真空可以测试从Na到U。可自动定位测试高度定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐。 通过鼠标可控制移动平台,只要是点击的位置就是被测点X射线光谱测厚仪应用于金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。如:贵金属加工和首饰加工行业;银行,首饰销售和检测机构;电镀行业。工作条件 光谱色散元件——光栅由德国Zeiss制造,保证优异的光谱分辨能力 技术指标 分析元素范围:从硫(S)到铀(U) ,同时检测元素:*多24个元素,多达五层镀层。检出限:可达2ppm,*薄可测试0.005μm,分析含量:一般为2ppm到99.9% 。镀层厚度:一般在50μm以内(每种材料有所不同)重复性:可达0.1%,稳定性:可达0.1%。SDD探测器:分辨率低至135eV |