X荧光镀层分析仪X荧光镀层分析仪EDX2000A具有较小的测试光斑和较高的分辨率,能够适应微区、凹凸、拐角、弧面等各种样品的快速对焦测试分析。X荧光镀层分析仪用于半导体芯片PCB等行业。的详细信息X荧光镀层分析仪EDX2000A是利用能量色散X荧光光谱仪原理的膜厚测试设备,(全自动微区膜厚测试仪)对平面、凹凸、拐角、弧面等各种简单及复杂形态的样品进行快速对焦精准分析,满足半导体、芯片及PCB等行业的非接触微区镀层厚度测试需求。通过自动化的X轴Y轴Z轴的三维移动,双激光定位和保护系统。
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