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X射线镀层测厚仪：共搜索到97 个符合条件的产品
| 产品图片 | 产品名称 | 产品简单介绍 |
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X-ray膜厚仪 | X-ray膜厚仪是利用XRF技术分析电镀层厚度的仪器，可以多点测试，全三维移动平台，自动定位系统。能检测各种不规则和大小的样品。x-ray膜厚仪还可以对电子连接件，pCB线路板的镀金层进行测试。 |
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X射线膜厚仪 | X射线膜厚仪是解决电镀金属层厚度测试的仪器，独特的上照式设计适合各种不规则样品，开放式样品腔样品的长宽不受限制，高度可容纳14cm。一键式测试，操作快速简便，无需耗材，使用成本极低。 |
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金属镀层厚度分析仪 | 金属镀层厚度分析仪能够分析0-50微米的表面镀层，采用上照式设计，全三维移动平台，测试效果一流。 |
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X射线荧光金属电镀层厚度测试仪Thick800A | X射线荧光金属电镀层厚度测试仪操作简单，测试速度快分析镀层只需30秒，精度高达0.005微米。能够实现鼠标自动定位功能，可以检测0.3mm的小样品镀层厚度。 |
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镀锌层测厚仪 | 镀锌层测厚仪是解决电镀锌层锌镍合金层的厚度测试，0.2mm的准直孔，最薄测试0.005微米，最大50微米，测试时间30秒不到。 |
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XRF镀锌层测厚仪 | XRF镀锌层测厚仪是无损无耗材的测厚方法，XRF镀锌层测厚仪的分析时间只需30秒。 |
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X射线荧光测厚仪 | X射线荧光测厚仪是采用上照式设计的，自带三维移动平台，满足各种不规则样品的金属镀层厚度测试。X射线荧光测厚仪的检测范围是0至50微米之间，测试误差在5%以内，最薄科测到0.005微米。 |
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天瑞thic800a上照式鼠标定位X射线荧光测厚仪 | 上照式x射线荧光测厚仪是天瑞仪器的核心产品，对5层以内的金属镀层进行厚度分析，通过鼠标点击样品位置实现自动测试功能 |
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X射线膜厚度分析仪 | X射线膜厚度分析仪仪thick800a具有良好的射线屏蔽作用，测试口高度敏感性传感器保护。高精度移动平台可精确定位测试点，重复定位精度小于0.005mm，采用高度定位激光，可自动定位测试高度，定位激 |
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x射线荧光X-ray膜厚仪 | x射线荧光X-ray膜厚仪是专业的金属镀层厚度检测仪，测试精度远高于电解式测厚仪。天瑞仪器的thick800a已经得到了电镀，PCB，汽车部件，国网系统等广大客户的青睐。 |